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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
全新的Helios Hydra双光束系统,研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下,使用者可在十分钟内快速、轻松地
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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
圆聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),旨在解决半导体行业中的TEM样品制备挑战。Helios 5 EXL DualBeam能够为当今最先进的工艺节点制备样品,包括亚5nm和门全方位技术。描述
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Helios 600 NanoLab FESEM/FIB"双束"显微镜
工作距离 4mm 5nm FIB @ 30kV,束交点工作距离 16.5mm 2.加速电压范围: SEM: 30kV 至 350V FIB: 30kV 至 500V 3.探测器: 新一代
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Helios G4 HX 等离子聚焦离子束 (FIB) 系统用于半导体行业
失效分析、工艺开发和过程控制实验室的成像、分析以及 TEM 样品制备。Helios G4 HX 集行业领先的zei高分辨率及zei高对比度 Elstar+UC SEM 与zei先进的 Phoenix
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多参数水质分析仪(5参数)
1、可以同时检测5个参数2、快速测定,节省人工3、可以检测多种类型水质多参数水质分析仪(5参数)仪表应用微电脑散射光检测浊度,光电子比色检测离子。 XZ-0105多参数水质分析仪(5参数)适用于
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Helios G4 FX 等离子聚焦离子束 (FIB) 系统
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Helios G4 UX 用于材料科学聚焦离子束电子束双束系统
Electron optics· Elstar extreme high-resolution field emission SEM column with:- Immersion
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易瞻 多参数水质在线分析仪 SEM9850-MU
显示输出7寸触摸屏,带LED强背光可阳光直射下操作电源100-240VAC (50/60HZ)输出八路4-20mA模拟输出,程序设定响应参数及对应范围继电器设置四路继电器,程序设定响应
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Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜
规格 材料科学规格Helios 5 PFIB CXe DualBeamHelios 5 PFIB UXe DualBeam电子光学系统Elstar 超高分辨率场发射 SEM 色谱柱,具有:浸没
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